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超声波扫描显微镜,超声波扫描检测仪,超声波扫描显微检测系统

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关键词： (8个字符) 超声、扫描、检测、

描述： (214个字符) 超声波扫描显微镜,ScanningAcousticMicroscope(SAM),就是利用超声波检测技术对器件进行扫描测试显微成像的设备.几十年的快速发展中,超声波扫描显微镜检测分辨率和准确性不断提高.2009年,首台国产超声波扫描显微镜推出,并拥有多项专利及自主核心技术,广泛用于材料和器件内部缺陷无损检测.作为无损检测的新一代技术,超声波扫描显微镜拥有不可替代的优势,已成为用户研发和生产的可靠保障,而且大幅降低了采购成本.

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 随 后 ， 俄 罗 斯 科 学 院 实 现 了 G H z 超 声 波 扫 描 显 微 镜 和 高 达 5 0 0 M H z 的 透 射 超 声 扫 描 显 微 镜 。 
 第 一 台 商 用 检 测 超 声 波 扫 描 显 微 镜 由 斯 坦 福 大 学 、 俄 罗 斯 科 学 院 、 牛 津 大 学 联 合 研 制 ， 该 超 声 扫 描 显 微 镜 覆 盖 1 0 0 M H z 到 1 . 8 G H z 的 频 率 范 围 。 
     随 后 的 几 十 年 ， 超 声 波 扫 描 显 微 镜 得 到 了 快 速 发 展 ， 检 测 分 辨 率 和 准 确 性 不 断 提 高 。 
 在 超 声 扫 描 显 微 镜 的 研 制 上 ， 美 国 和 德 国 起 步 早 ， 发 展 快 ， 检 测 技 术 也 比 较 领 先 。 
 但 是 ， 随 着 超 声 波 扫 描 显 微 镜 在 科 技 领 域 不 断 扮 演 不 可 或 缺 的 角 色 ， 国 内 也 陆 续 开 展 了 相 关 研 制 ， 十 几 年 前 就 已 推 出 国 产 超 声 扫 描 显 微 镜 。 
     目 前 ， 超 声 波 扫 描 显 微 镜 已 成 为 某 些 行 业 科 研 及 生 产 制 造 不 可 或 缺 的 检 测 设 备 ， 国 内 公 司 在 超 声 扫 描 显 微 镜 研 发 上 不 断 增 加 投 入 ， 逐 步 缩 小 了 与 国 外 超 声 扫 描 显 微 镜 的 差 距 ， 与 进 口 超 声 波 扫 描 显 微 镜 同 台 竞 技 。 
 超 声 波 扫 描 显 微 镜 助 力 半 导 体 封 装 检 测     超 声 波 扫 描 显 微 镜 ， S c a n n i n g A c o u s t i c M i c r o s c o p e ( S A M ) ， 顾 名 思 义 ， 就 是 利 用 超 声 波 检 测 技 术 对 器 件 进 行 扫 描 测 试 显 微 成 像 的 设 备 。 
 超 声 波 扫 描 显 微 镜 能 够 对 器 件 进 行 表 面 、 内 部 、 穿 透 等 多 种 扫 描 显 微 成 像 ， 广 泛 用 于 对 微 电 子 、 集 成 电 路 、 航 空 航 天 领 域 的 器 件 、 组 件 和 材 料 的 检 测 ， 实 现 失 效 分 析 、 可 靠 性 分 析 、 过 程 控 制 、 品 质 控 制 、 产 品 研 发 、 工 艺 提 升 等 。 
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